濟(jì)寧優(yōu)質(zhì)光纖入戶廠家批發(fā)

　　光纖光纜是新一代的傳輸介質(zhì)，與銅質(zhì)介質(zhì)相比，光纖無論是在安全性、可靠性還是網(wǎng)絡(luò)性能方面都有了很大的提高。除此之外，光纖傳輸?shù)膸挻蟠蟪鲢~質(zhì)線纜，而且其支持的最大連接距離達(dá)兩公里以上，是組建較大規(guī)模網(wǎng)絡(luò)的必然選擇。由于光纖光纜具有抗電磁干擾性好、保密性強(qiáng)、速度快、傳輸容量大等優(yōu)點(diǎn)，所以它的價(jià)格也較為昂貴，在家用場合很少使用。

　　活動(dòng)連接是利用各種光纖連接器件（插頭和插座），將站點(diǎn)與站點(diǎn)或站點(diǎn)與光纜連接起來的一種方法。這種方法靈活、簡單、方便、，多用在建筑物內(nèi)的計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)布線中。其典型衰減為1dB/接頭。光纖檢測的主要目的是系統(tǒng)連接的質(zhì)量，減少故障因素以及故障時(shí)找出光纖的故障點(diǎn)。檢測方法很多，主要分為人工簡易測量和精密儀器測量。人工簡易測量:這種方法一般用于檢測光纖的通斷和施工時(shí)用來分辨所做的光纖。它是用一個(gè)簡易光源從光纖的一端打入可見光，從另一端觀察哪一根發(fā)光來實(shí)現(xiàn)。這種方法雖然簡便，但它不能定量測量光纖的衰減和光纖的斷點(diǎn)。

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　　成端過程中產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)在光纜成端過程中，也經(jīng)常會(huì)產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)。在成端時(shí)，由于一般不進(jìn)行熔接損耗監(jiān)測，僅憑經(jīng)驗(yàn)操作，因此，產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)的幾率也大增。此外，在光纖熔接后安裝收容盤時(shí)，往往造成收容盤附近的光纖束管彎曲半徑過小或造成光纖束管擰轉(zhuǎn)變形，使光纖在此處產(chǎn)生一個(gè)較大的衰耗點(diǎn)，此類大衰耗點(diǎn)一般比較隱蔽，不像線路中間的大衰耗點(diǎn)用OTDR可以直接測出。光纜大衰耗點(diǎn)的查找定位和處理一般產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)的位置光纜接續(xù)完成后，我們一般要對整個(gè)中繼段用OTDR進(jìn)行測試，通過測試，可以檢驗(yàn)接續(xù)完的光纜中繼段的光特性是否符合施工規(guī)范和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求，主要從以下幾個(gè)方面進(jìn)行考核:中繼段全程總衰耗是否小于設(shè)計(jì)規(guī)定（也就是平均衰耗系數(shù)是否小于設(shè)計(jì)規(guī)定值）；中繼段接頭雙向平均衰耗值是否小于驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)要求；中繼段后向散射曲線是否斜率均勻，曲線平滑，除正常的接頭衰耗點(diǎn)的小臺(tái)階外，曲線上應(yīng)無大衰耗臺(tái)階。利用OTDR進(jìn)行光中繼段測試和人衰耗點(diǎn)定位時(shí)，首先應(yīng)正確地設(shè)置儀表的測試參數(shù)，諸如測試量程、測試波長、脈沖寬度、折射率和平均化處理時(shí)間等。

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　　光纜線路大衰耗點(diǎn)產(chǎn)生的原因及處理方法在光纜線路的施工中，光纜線路的衰耗是一項(xiàng)重要的考核，不但要考核施工完畢的光纜線路的光纖平均損耗系數(shù)，還要考核光纜線路光纖散射曲線，光纜線路的平均損耗系數(shù)和總損耗不但要符合設(shè)計(jì)要求，還要符合施工規(guī)范和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求，而且要求光纖散射曲線比較均勻，曲線上不應(yīng)出現(xiàn)較大的衰耗臺(tái)階，以光纜線路的光特性技術(shù)符合施工規(guī)范和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求。光纜大衰耗點(diǎn)產(chǎn)生的幾種現(xiàn)象和原因