1、1半導體無損檢測技術概述半導體無損檢測技術是在不破壞樣品的前提下，對芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行可視化分析和缺陷檢測的關鍵手段隨；文劉海博 陳竹 李越 李睿鵬 曾令鵬 陸竑 X射線檢測設備行業(yè)具有較高技術壁壘，其產(chǎn)業(yè)鏈核心價值環(huán)節(jié)集中在X射線源探測器高壓。

2、從X射線到三維模型工業(yè)CT無損檢測技術源自醫(yī)學CT掃描原理，后經(jīng)過適應工業(yè)應用需求的改良和發(fā)展其核心工作原理是利用X射線；X光無損檢測設備正業(yè)科技研發(fā)生產(chǎn)了一款X光無損檢測設備，適用于封裝后的LED，通過X射線的透視成像進行檢測和分析內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

3、10月18日，由中國機械工程學會主辦，中國機械工程學會無損檢測分會丹東市邊境經(jīng)濟合作區(qū)管委會丹東市射線儀器行業(yè)商會南；“X射線無損檢測設備在國際上比較通用，但目前國內(nèi)所用的X射線無損檢測設備大部分為國外進口，設備維修維護和安全難以保障。